반도체 공정의 수율을 향상시키기 위해서는 Wafer Test 데이터 가장 관리가 중요합니다. ISET-DA는 Wafer Test 공정 Data 관리 기술 부분에서 최고의 기술력을 가진 기업입니다.
* ISET-DA는 2006년부터 SK Hynix社와 Wafer Test 솔루션을 공동 개발/운영해 오고 있습니다.
Wafer Test
Test결과를 선별/정리하고, 공정의 유효성을 검증.
Repair
Repair 결과를 정리하고, Fuse 단위로결과를 검증.
Inspection
Inspection 결과와 Defect Image Processing 진행.
Sort Order
모든 Test 결과를 취합, Inking Map 생성.
Wafer Test 결과를 어떻게 수집하고, 수집된 결과를 어떻게 활용할 것인가가 반도체 FAB 수율을 결정합니다. ISWT는 반도체 Wafer Test 공정관리에 최적화된 솔루션입니다. 각종 측정 데이터, Inspection 데이터를 수집/취합하여, Wafer의 품질을 측정하고, Sort order를 통해 Wafer 내 DIE들의 불량여부를 판단할 수 있습니다.
* 아래 버튼을 클릭하시면 ISWT에 대해 더 자세히 알아보실 수 있습니다.Learn More
ISW
ISW는 최신 소프트웨어 기술과 축적된 경험이 적용된 안정적이며 유연한 창고관리 시스템입니다. 창고관리 시스템은 창고내에서 이루어지는 모든 작업의 데이터를 실시간으로 취합하고, 사용자에게 제공되어야 합니다. ISW가 제품정보 실시간 파악, 적정상태의 재고율 유지, 입고와 Picking 소요시간 감소, 업무량 감소, Paperless Working의 효과를 경험 시켜 드립니다.
* 아래 버튼을 클릭하시면 ISW에 대해 더 자세히 알아보실 수 있습니다.Learn More